变压器绕组变形频率响应测试仪根据对变压器内部绕组特征参数的测量，变压器绕组变形测试仪采用目前世界发达国家正在开发完善的内部故障频率响应分析(FRA)方法，能对变压器内部故障作出准确判断。变压器设计制造完成后，其线圈和内部结构就确定下来，因此对一台多绕组的变压器线圈而言，如果电压等级相同、绕制方法相同，则每个线圈对应参数(Ci、Li)就应该是确定的。因此每个线圈的频域特征响应也随之确定，对应的三相线圈之间其频率图谱具有一定可比性。

变压器在试验过程中发生匝间、相间短路，或在运输过程中发生冲撞，造成线圈相对位移，以及运行过程中在短路和故障状态下因电磁拉力造成线圈变形，就会使变压器绕组的分布参数发生变化。进而影响并改变变压器原有的频域特征，即频率响应发生幅度变化和谐振频点偏移等。并根据响应分析方法研制开发的SEBX-DS变压器绕组变形测试仪，就是这样一种新颖的变压器内部故障无损检测设备。它适用于63kV～500kV电力变压器的内部结构故障检测。

变压器绕组变形测试仪主要技术指标：

变压器绕组变形测试仪自带一个通道DDS信号输出作为扫频的激励信号；信号输出为正弦波，信号输出幅度可以软件调节，zui大幅度±5V，信号输出阻抗为50Ω
两个采集通道，一个采集激励信号，一个采集响应信号，用于计算传递函数
激励通道测量为固定量程：±5V；响应通道有 8档量程，在测量过程中自动调节量程，zui大输入信号为±25V
采集通道量化精度：12位
采集通道zui大静态误差：0.5%
每通道zui大存储容量：64K样点
每通道zui高采样率：20Msps
采集通道输入阻抗：1MΩ
扫频测量范围：1K－1MHz
扫描方式：采用线形分布的扫频测量方式
扫描频率精度：信号源输出正弦信号的频率精度不大于0.01%
扫频测量频点：1K－1MHz，测量点数1000点
采用Vittal原装机箱